"Effects of fin width on performance and reliability for N- and P-type FinFETs",BIT's 3 rd Annual World Congress of Smart Materials-2017,Thailand,2017/03/16-2017/03/18 (SCI)

年度：2017

論文類型：會議論文

論文等級：SCI

論文名稱(篇名)：Effects of fin width on performance and reliability for N- and P-type FinFETs

會議名稱：BIT's 3 rd Annual World Congress of Smart Materials-2017

會議開始時間：2017-03-16

會議結束時間：2017-03-18

作者中文名：葉文冠

作者英文名：Wen-Kuan Yeh

全部作者：Wen-Kuan Yeh ; Wenqi Zhang ; Chia-Hung Shih ; Yi-Lin Yang

著作人數：4

作者型態：Other

會議地點：Thailand

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