"The impact of fin number on device's performance and reliability in tri-gate FinFETs",Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM),Japan,2017/02/28-2017/03/02 (SCI)

年度：2017

論文類型：會議論文

論文等級：SCI

論文名稱(篇名)：The impact of fin number on device's performance and reliability in tri-gate FinFETs

會議名稱：Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM)

會議開始時間：2017-02-28

會議結束時間：2017-03-02

作者中文名：葉文冠

作者英文名：Wen-Kuan Yeh

全部作者：Wen-Kuan Yeh ; Po-Ying Chen ; Chia-Hung Shih ; Wenqi Zhang ; Yi-Lin Yang

著作人數：5

作者型態：Other

會議地點：Japan

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