"Junction induced Variation and Reliability for Ultra-Thin-Body and Bulk Oxide CMOSFETs",IPFA 2014 FINAL PROGRAMME,Marina Bay Sands , SINGAPORE ,2014/06/30-2014/07/04 (SCI)

年度：2014

論文類型：會議論文

論文等級：SCI

論文名稱(篇名)：Junction induced Variation and Reliability for Ultra-Thin-Body and Bulk Oxide CMOSFETs

會議名稱：IPFA 2014 FINAL PROGRAMME

會議開始時間：2014-06-30

會議結束時間：2014-07-04

作者中文名：葉文冠

作者英文名：Wen-Kuan Yeh

全部作者：Wen-Kuan Yeh, Wen-Teng Chang, Po-Ying Chen and Cheng-Li Lin

著作人數：4

作者型態：First Author

會議地點：Marina Bay Sands , SINGAPORE

主辦單位：IEEE Singapore Reliability/CPMT/ED Chapter

使用語言：英文

Click Num: