跳到主要內容區

 

Thermal Stress Exposing Surface Channel-length Effect of Nano ntype FinFETs

年度 2016
論文類型 海報展示
論文等級 其他
論文名稱(篇名) Thermal Stress Exposing Surface Channel-length Effect of Nano ntype FinFETs
會議名稱 IEDMS
會議開始時間 2016-11-24
會議結束時間 2016-11-25
作者中文名 藍文厚
作者英文名 Wen-How Lan
全部作者 Mu-Chun Wang, Ting-Wei Chao, Yun-Ru Chen, Chao-Nan Wei, Yu-Wei Wang, Shea-Jue Wang, Wen-How Lan
著作人數 7
作者型態 Corresponding Author
會議地點 國立臺灣師範大學
瀏覽數:
登入成功