出版日期：2012-05-00
期刊等級：SCI
論文名稱(篇名)：RF stress effects on CMOS LC-loaded VCO reliability evaluated by experiments
期刊名：Microelectronics Reliability
卷數：12
期數：2
起頁：369
迄頁：374
總頁數：6
作者中文名：葉文冠
作者英文名：Wen-Kuan Yeh
全部作者：H.D. Yen, J.S. Yuan, R.L. Wang, G.W. Huang, W.K. Yeh , and F.S. Huang
著作人數：6
作者型態： Other
備註：In Press
