出版日期：2010-08-00
期刊等級：SCI / EI
論文名稱(篇名)：External Stresses on Tensile and Compressive Contact Etching Stop Layer SOI MOSFETs
期刊名：IEEE Transactions on Electron Devices
卷數：57
期數：8
起頁：1889
迄頁：1894
總頁數：6
作者中文名：葉文冠
作者英文名：Wen-Kuan Yeh
全部作者：Wen-Teng Chang,Chih-Chung Wang(王治忠),Jian-An Lin(林建安),and Wen-Kuan Yeh
著作人數：4
作者型態：Corresponding Author
參考網址：http://ieeexplore.ieee.org/search/freesrchabstract.jsp?tp=&arnumber=5497124&queryText%3DExternal+Stresses+on+Tensile+and+Compressive+Contact+Etching+Stop+Layer+SOI+MOSFETs%26openedRefinements%3D*%26searchField%3DSearch+All
使用語言：英文
