"Performance Evaluation of UTBB FDSOI, FinFETs, and SOI FinFETs via Mechanical Stresses and Body Biasing" , IEEE Transactions on Nanotechnology , PP , 99 , pp1-1 , (SCI)

期刊等級：SCI

論文名稱(篇名)：Performance Evaluation of UTBB FDSOI, FinFETs, and SOI FinFETs via Mechanical Stresses and Body Biasing

期刊名： IEEE Transactions on Nanotechnology

卷數：pp

期數：99

起頁：1

迄頁：1

總頁數：4

作者中文名：葉文冠

作者英文名：Wen-Kuan Yeh

全部作者：Wen-Teng Chang; Cheng-Ting Shih; Jhao-Lin Wu(吳昭霖); Shih-Wei Lin(林士瑋), and Wen-Kuan Yeh

著作人數：5

作者型態：Other

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