年度：2018
論文類型：會議論文
論文等級：SCI
論文名稱(篇名)：Location-controlled-grainTechnique for Monolithic3DBEOL FinFETCircuits
會議名稱：IEEE International Electron Devices Meeting
作者中文名：葉文冠
作者英文名：Wen-Kuan Yeh
全部作者：Chih-Chao Yang, Tung-Ying Hsieh,Po-Tsang Huang, Kuan-NengChen,Wan-Chi Wu2,Shih-Wei Chen, Chia-He Chang, Chang-Hong Shen,Jia-Min Shieh,Chenming Hu, Meng-Chyi Wu, and Wen-Kuan Yeh
著作人數：12
作者型態：Other
會議地點：USA
