年度：2013
論文類型：會議論文
論文等級：SCI
論文名稱(篇名)：Device Variability and Reliability Check for Ultra-Thin-Body and Bulk Oxide CMOSFETs
會議名稱：IEEE Proceedings of EDSSC
會議開始時間：2013-06-05
會議結束時間：2013-06-05
作者中文名：葉文冠
作者英文名：Wen-Kuan Yeh
全部作者：Wen-Kuan Yeh, Chun-Ming Lai, Li-Kong Chin, and Po-Ying Chen
著作人數：4
作者型態：Corresponding Author
會議地點：HongKong, China
