年度：2007
論文類型：其他
論文等級：其他
論文名稱(篇名)：The Effect of Mobility Enhanced Technology on Device Characteristic and Reliability for sub-90nm SOI nMOSFETs
會議名稱：EDSSC
會議開始時間：
會議結束時間：
作者中文名：葉文冠
作者英文名：Wen-Kuan Yeh
全部作者：Chia-Wei Hsu, Wen-Kuan Yeh, Chieh-Ming Lai, Chien-Ting Lin, Yean-Kuen Fang
著作人數：5
作者型態：Corresponding Author
會議地點：Tainan, Taiwan
使用語言：英文
