年度：2007
論文類型：其他
論文等級：其他
論文名稱(篇名)：The Impact of Strain Technology on Device Performance and Reliability for sub-90nm SOI nMOSFETs
會議名稱：IEEE Proceedings of IEDMS
會議開始時間：
會議結束時間：
作者中文名：葉文冠
作者英文名：Wen-Kuan Yeh
全部作者：Jean-An Wang, Jiun-Yu Chen, Chia-Wei Hsu, Wen-Kuan Yeh
著作人數：4
作者型態：Corresponding Author
會議地點：HsinChu, Taiwan
使用語言：英文
