年度：2006
論文類型：受邀演講
論文等級：其他
論文名稱(篇名)：The impact of Stress Enhanced Technology for sub-90nm SOI MOSFETs
會議名稱：International Conference on Solid-State and Integrated-Circuit Technology
會議開始時間：2006-10-00
會議結束時間：2006-10-00
作者中文名：葉文冠
作者英文名：Wen-Kuan Yeh
全部作者：Wen-Kuan Yeh, Chieh-Ming Lai, Chien-Ting Lin, Yean-Kuen Fang
著作人數：4
作者型態：First Author
會議地點：Shanghai, China
使用語言：英文
