年度：2006
論文類型：其他
論文等級：其他
論文名稱(篇名)：he Impact of Strained Engineering for 65nm FUSI CMOSFETs
會議名稱：IEEE Proceedings of Device Research Conference
會議開始時間：
會議結束時間：
作者中文名：葉文冠
作者英文名：Wen-Kuan Yeh
全部作者：Chieh-Ming Lai, Yean-Kuen Fang, Wen-Kuan Yeh, Chien-Ting Lin
著作人數：4
作者型態：Penn State
會議地點：Corresponding Author
使用語言：英文
