年度 2014
論文類型 會議論文
論文名稱(篇名) Back biases and positive bias temperature instability on low and high doped ultrathin body and buried oxide siliocn-on-insulator
會議名稱 IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop
會議開始時間 2014-06-08
會議結束時間 2014-06-09
作者中文名 張文騰
作者英文名 Wen-Teng Chang
全部作者 Wen-Teng Chang, Sheng-Ting Shih(施政廷), Chien-Hung, Yeh(葉建銘), Wen-Kuan Yeh
著作人數 4
作者型態 First Author / Corresponding Author
會議地點 Hawaii, USA
使用語言 英文