"Detecting Defects on Planar Circuits by Using Non-contacting Magnetic Probe",2010 Asia-Pacific Microwave Conference (APMC),Yokohama, Japan,2010/12/07-2010/12/10 (SCI)

年度：2010

論文類型：會議論文

論文等級：SCI

論文名稱(篇名)：Detecting Defects on Planar Circuits by Using Non-contacting Magnetic Probe

會議名稱：2010 Asia-Pacific Microwave Conference (APMC)

會議開始時間：2010-12-07

會議結束時間：2010-12-10

作者中文名：吳松茂

作者英文名：Song-Mao Wu

全部作者：Sung-Mao Wu, Tai-Chiuan Wang(王泰權) and Chiao-Han Lan(藍巧涵)

著作人數：3

作者型態：First Author

會議地點：Yokohama, Japan

使用語言：英文

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