A UNIFIED QUANTUM SCALING LENGTH MODEL FOR NANOMETER MULTIPLE-GATE MOSFETS
- 年度：2018
- 論文類型：口頭報告 / 會議論文 / 海報展示
- 論文等級：EI
- 論文名稱(篇名)：A UNIFIED QUANTUM SCALING LENGTH MODEL FOR NANOMETER MULTIPLE-GATE MOSFETS
- 會議名稱：The 7th IEEE International Symposium on Next-Generation Electronics (ISNE 2018)
- 會議開始時間：2018-05-07
- 會議結束時間：2018-05-09
- 作者中文名：江德光
- 作者英文名：Te-Kung Chiang
- 全部作者：Te-Kuang Chiang, Ying-Wen Ko(柯盈彣), Yu-Hsuan Lin(林祐萱),Hong-Wun Gao, Yeong-Her Wang
- 著作人數：5
- 作者型態：First Author / Corresponding Author
- 會議地點：Taipei, Tawan
- 使用語言：
瀏覽數: